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  • 3464 斜投影顯微圖像分析法測(cè)量片狀顆粒厚度的研究 2013-8-8
    斜投影顯微圖像分析法測(cè)量片狀顆粒厚度的研究竇彥玲,任中京,江海鷹(濟(jì)南大學(xué)顆粒測(cè)試研究所,山東濟(jì)南 250022)摘要:與傳統(tǒng)正投影顯微圖像分析方法不同,本文應(yīng)用斜投影法,通過(guò)變換觀測(cè)顆粒

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