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7187 次 DPI技術－“分子顯微鏡” 2008-8-6
DPI（Dual Polarization Interferometry）雙偏振極化干涉分析技術是自2002年以后發(fā)展起來的用于對相互作用的分子之間的實時相互作用行為進行定性定量測量研究的工具。通過對兩相或者多相分子
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5649 次 偏光顯微鏡(Polarizing microscope) NEW 2008-5-11
一、偏光顯微鏡的特點偏光顯微是鑒定物質(zhì)細微結構光學性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質(zhì)也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利
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