1009 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂層的光譜分析 2024-10-10
飛行時間二次離子質(zhì)譜( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發(fā)生濺射產(chǎn)生二次粒子,
1116 次TOF-SIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀離子源的選擇 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飛行時間二次離子質(zhì)譜儀的基本組件包括一次離子束,和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時間質(zhì)譜儀進行分析使用。
2442 次直接分析法和離子淌度TOF MS在環(huán)境分析中的適用性研究 2014-4-15
Michael McCullagh and Ramesh Rao沃特世公司(英國曼徹斯特) 簡介 自第一臺市售離子淌度質(zhì)譜儀(SYNAPT HDMS,沃特世公司)面世以來,人們對離子淌度分離的關(guān)注持續(xù)升溫,該質(zhì)譜儀以行波方式進
2002 次UPLC-Tof-MSE篩查混合尿液中的常規(guī)與新型藥物 2014-4-8
John Archer1,Paul Dargan1,David Wood1,Nayan Mistry2 and Michelle Wood2 1Guy’s and St. Thomas’ NHS信托基金會,臨床毒理學(英國倫敦) 2沃特世公司MS技術(shù)中心(英國曼徹斯特) 簡介娛