植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)榮獲美國R&D發(fā)明大獎

據(jù)美國R&D Magazine最新消息，由上海澤泉科技有限公司代理的美國Phenotype Screening公司植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)ROOTVIS FS榮獲美國R&D100大獎殊榮.

美國Phenotype Screening公司的植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)是在美國能源部創(chuàng)新項目資助下研發(fā)成功的一套新型、高效率、高精度、非破壞性的測量系統(tǒng)，用于對盆栽植物的根系進(jìn)行原位成像分析，可以拍攝根系的立體X-光照片。

詳見： http://www.rdmag.com/awards.aspx?CommonCount=0

這套系統(tǒng)是植物根系研究領(lǐng)域繼根視（rhizotron）系統(tǒng)（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系統(tǒng)）后最激動人心的發(fā)明。根視系統(tǒng)需要將根取出清洗后，借助掃描儀進(jìn)行分析，這個過程往往會折斷植物的根尖等脆弱部分，而且屬于離體分析，不能進(jìn)行動態(tài)監(jiān)測。而植物根系X-光掃描分析系統(tǒng)是非破壞性的原位分析系統(tǒng)，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生長的不同階段對根系的生長進(jìn)行長期動態(tài)監(jiān)測。這套系統(tǒng)非常適合于研究植物根系對脅迫的動態(tài)響應(yīng)。



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