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PhenoTrait應(yīng)邀參加第十四屆國(guó)際谷物穗發(fā)芽會(huì)議

瀏覽次數(shù):17949 發(fā)布日期:2019-8-1  來(lái)源:本站 本站原創(chuàng),轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處


7月30-8月2日,天府之國(guó)四川成都,召開(kāi)了第十四屆國(guó)際谷物穗發(fā)芽會(huì)議,本次會(huì)議由國(guó)際谷物穗發(fā)芽大會(huì)主辦,四川農(nóng)業(yè)大學(xué)承辦。
 

 

大會(huì)伊始,由四川農(nóng)業(yè)大學(xué)小麥研究所所長(zhǎng)王際睿致辭,隨后會(huì)議圍繞種子發(fā)育對(duì)萌發(fā)影響、穗發(fā)芽抗性機(jī)制及其對(duì)品質(zhì)影響、抗性育種等內(nèi)容展開(kāi)。英國(guó)John Innes中心Steve Penfield博士,中國(guó)科學(xué)院遺傳與發(fā)育生物學(xué)研究所儲(chǔ)成才博士等與會(huì)專(zhuān)家做了精彩的報(bào)告。
 


慧諾瑞德(北京)科技有限公司(PhenoTrait)應(yīng)邀參會(huì)并布設(shè)展臺(tái)展示了最新的光合作用測(cè)量和植物表型測(cè)量技術(shù),包括

 

相關(guān)公司:慧諾瑞德(北京)科技有限公司
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