第二屆質(zhì)譜儀器研發(fā)論壇將于2019年10月10日-12日在江蘇昆山舉辦,本屆會議由中國儀器儀表學會分析儀器分會質(zhì)譜儀器學術組主辦,分析測試百科網(wǎng)協(xié)辦,昆山禾信質(zhì)譜技術有限公司承辦。屆時將有眾多質(zhì)譜研發(fā)領域資深專家與會,共同討論質(zhì)譜核心技術的創(chuàng)新開發(fā)及應用問題。
濱松中國將出席本次會議,并發(fā)表“質(zhì)譜探測新技術,為質(zhì)譜儀研發(fā)帶來更多可能”的報告(10月11日,15:45-16:00)。報告將介紹本年ASMS中發(fā)布的濱松應用于質(zhì)譜分析儀器的探測技術動向,以及產(chǎn)品升級和最新應用信息,其中包括了高氣壓下(達1Pa)仍可高增益正常工作的柵網(wǎng)陽極結構MCP、大幅縮短TOF-MS(MALDI)前處理時間的無基質(zhì)輔助電離基板(DIUTHAME)、復合雪崩二極管結構的MCP、通道式電子倍增器(CEM)。
濱松擁有65年光電探測器的研制經(jīng)驗,享譽世界,在質(zhì)譜用探測器技術的耕耘也已有40年的歷史,可為質(zhì)譜提供離子化光源、電子倍增器(EM)、微通道板(MCP)等產(chǎn)品。此次會議,濱松將在現(xiàn)場進行包括新品在內(nèi)的多類系列產(chǎn)品的展示,歡迎屆時蒞臨展位參觀與交流。