濱松邀您參加第二屆質(zhì)譜儀器研發(fā)論壇

第二屆質(zhì)譜儀器研發(fā)論壇將于2019年10月10日-12日在江蘇昆山舉辦，本屆會議由中國儀器儀表學會分析儀器分會質(zhì)譜儀器學術組主辦，分析測試百科網(wǎng)協(xié)辦，昆山禾信質(zhì)譜技術有限公司承辦。屆時將有眾多質(zhì)譜研發(fā)領域資深專家與會，共同討論質(zhì)譜核心技術的創(chuàng)新開發(fā)及應用問題。

濱松中國將出席本次會議，并發(fā)表“質(zhì)譜探測新技術，為質(zhì)譜儀研發(fā)帶來更多可能”的報告（10月11日，15:45-16:00）。報告將介紹本年ASMS中發(fā)布的濱松應用于質(zhì)譜分析儀器的探測技術動向，以及產(chǎn)品升級和最新應用信息，其中包括了高氣壓下（達1Pa）仍可高增益正常工作的柵網(wǎng)陽極結構MCP、大幅縮短TOF-MS（MALDI）前處理時間的無基質(zhì)輔助電離基板（DIUTHAME）、復合雪崩二極管結構的MCP、通道式電子倍增器（CEM）。

濱松擁有65年光電探測器的研制經(jīng)驗，享譽世界，在質(zhì)譜用探測器技術的耕耘也已有40年的歷史，可為質(zhì)譜提供離子化光源、電子倍增器（EM）、微通道板（MCP）等產(chǎn)品。此次會議，濱松將在現(xiàn)場進行包括新品在內(nèi)的多類系列產(chǎn)品的展示，歡迎屆時蒞臨展位參觀與交流。