CRAIC攜手云緯科技為顯微光譜分析提供先進(jìn)解決方案

深圳云緯科技有限公司成為美國CRAIC 在中國的一級(jí)代理商，我公司與美國CRAIC公司一起攜手，為國內(nèi)微區(qū)光譜科研貢獻(xiàn)最先進(jìn)的微區(qū)光譜解決方案，深圳云緯科技有限公司是一家先進(jìn)的檢測分析儀器設(shè)備供應(yīng)商，專業(yè)為客戶提供最全面的，最先進(jìn)的顯微光譜分析檢測儀器設(shè)備。我們也是一家專業(yè)技術(shù)型的貿(mào)易企業(yè)，也一直致力于材料科學(xué)，地質(zhì)研究，生物科學(xué)及制藥，刑偵和工業(yè)檢測等領(lǐng)域。

CRAIC一直致力于以下研究顯微分析技術(shù)

• 紫外-可見光-近紅外 顯微光譜學(xué)技術(shù)
• 紫外-可見光-近紅外 顯微鏡學(xué)
• 色度顯微光譜學(xué)
• 透射顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)
• 反射顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)
• 熒光顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)
• 偏振光顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)
• 拉曼顯微光譜學(xué)
• 膜厚測量
• 譜模式

美國CRAIC 具有全球最豐富的顯微分光光度計(jì)的設(shè)計(jì)，開發(fā)，制造和安裝的經(jīng)驗(yàn)美國CRAIC 一直致力于為全球科研提供最高水準(zhǔn)的卓越品質(zhì)和服務(wù)

深圳云緯科技有限公司

聯(lián)系地址：深圳市龍崗區(qū)天安云谷產(chǎn)業(yè)園一期B棟
聯(lián)系人：龍經(jīng)理
聯(lián)系電話：13534092818
郵箱：yunway@cloudsway.net.cn